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Hyperspektral-abbildendes Mikroskop zur Materialanalyse von Solarzellen oder Halbleiter

Das hyperspektral-abbildende Mikroskop IMA von Photon ETC liefert spektrale und räumliche Informationen im Wellenlängenbereich des VIS, NIR und SWIR (400 nm – 1620 nm). Dieses hyperspektrale System erlaubt Ihnen eine schnelle Messung der Photolumineszenz, der Elektrolumineszenz, der Fluoreszenz, der Reflektanz und der Transmission Ihrer Probe.

Das IMA System basiert auf einer einzigartigen Filter-Technik mit sehr hohem Durchsatz und ist dadurch schneller und effizienter als herkömmliche Systeme. Der Einsatz dieses hyperspektralen Mikroskops reicht dabei von komplexen Materialanalysen zur Qualitätskontrolle und Charakterisierung von Solarzellen oder Halbleiter, über die Untersuchungen zu IR Markern in komplexen Umgebungen, wie lebenden Zellen oder Gewebe, bis hin zu Messungen im Dunkelfeld, um kontrastreiche Aufnahmen von transparenten und ungefärbten Proben wie Polymeren, Kristallen oder lebenden Zellen zu realisieren.