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LuxFlux NIR-M-F1

Module

NIR-M-F1 ist ein kompaktes Nah-Infrarot OEM-Spektrometermodul auf Basis DLP® Technologie:

  • Arbeitsbereich: 900 – 1700 nm
  •  Lichtstarke DLP® Technologie
  • 10 nm Auflösung
  • 30 bit Dynamikbereich
  • keine Pixel-zu-Pixel-Variation

Kurze Beschreibung

Das NIR-M-F1 ist ein Gitterspektrometer auf Basis der Texas Instruments DLP® Technologie. Ein Mikrospiegel-Array und ein InGaAs-Punktdetektor ersetzen die InGaAs CCD-Zeile herkömmlicher Spektrometer. Diese Technologie ermöglicht einen enormen Dynamikbereich von bis zu 30 bit, eine hohe photometrische Linearität und eliminiert Pixel-zu-Pixel-Variationen. Gleichzeitig erlaubt diese Chiptechnologie ein kompaktes und trotzdem lichtstarkes Design. Als OEM-Modul ist das NIR-M-F1 zum Einbau vorgesehen. Er verfügt über einen SMA905 Glasfaseranschluss und eine USB-Schnittstelle.

Funktionen:

  • Intensitätsmessungen im Spektralbereich 900 nm – 1700 nm
  • automatischer Dunkelstromabgleich
  • nutzerfreundliche Desktop-Software für Windows, Mac und Linux
  • Treiber als C/C++ Bibliothek verfügbar, weitere Treiber auf Anfrage

Anwendungsbeispiele:

  • Prozessmesstechnik
  • Chemische Analysen
  • Qualitätskontrolle
  • Umweltanalysen
  • Systemintegration